HeLeeX E9-M 合金分析儀是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，是目前國(guó)內(nèi)*一 款既能測(cè)輕元素，又能測(cè)揮發(fā)性液體的多樣品連續(xù)無(wú)人值守測(cè)試XRF。與普通EDXRF相比，具有測(cè)試時(shí)間短（E9僅需60秒，普通EDXRF需要300秒的分析時(shí)間）；測(cè)試穩(wěn)定性高，可無(wú)人值守連續(xù)測(cè)試多個(gè)樣品，對(duì)輕元素也有非常好的檢測(cè)下限和檢測(cè)精度。 HeLeeX E9-M 合金分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)： 汽車噴漆工藝 ● 儀器外觀采用汽車噴漆工藝，并采用雅致白與寶藍(lán)色搭配，張顯儀器科技與時(shí)尚的融合。 可視化樣品倉(cāng) ●樣品窗采用鉛玻璃，在測(cè)試過(guò)程中可直接觀查樣品。 多樣品測(cè)試 ● 多樣品連續(xù)測(cè)試，無(wú)人值守，節(jié)省您的寶貴時(shí)間。 ●可選配單樣品測(cè)試。 分析時(shí)間短 ● 與普通的EDXRF相比，分析時(shí)間短； ●普通EDXRF分析時(shí)間：300秒，HeLeeX E9分析時(shí)間：60秒。 真空/氦氣雙光路 ● 國(guó)內(nèi)外，真空/氦氣雙光路系統(tǒng)，可檢測(cè)固體、液體、粉末樣品中，輕元素，如Al,Si,P,S,Cl。 輻射防護(hù) ● 迷宮設(shè)計(jì)，鉛玻璃防護(hù)； ● X射線管后照射； ● 誤操作應(yīng)急系統(tǒng)，0.5uS快速切斷X射線； ●國(guó)家機(jī)構(gòu)出具的儀器輻射安全報(bào)告。 易搬運(yùn) ●儀器底部有四個(gè)移動(dòng)輪子，可根據(jù)需要固定或者移動(dòng)。 ●儀器重量95Kg； 易更換 ●樣品測(cè)試薄膜易更換； ●模塊化準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)，根據(jù)不同客戶，不同測(cè)試樣品配備不同材質(zhì)不同孔徑準(zhǔn)直器。 易操作 ● 軟件界面簡(jiǎn)潔，易操作，30分鐘即可學(xué)會(huì)； ● 配備儀器操作流程圖，儀器操作、儀器維護(hù)更簡(jiǎn)單； 數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確 ●軟件配備三種軟件算法，根據(jù)不同材質(zhì)配置； ●自主研發(fā)高低能量獨(dú)立算法，有效提高低能元素分辨率； ●普通EDXRF分辨率：149eV，HeLeeX E9分辨率：125eV； *的輕元素分析能力 ●測(cè)試P、S更高的分辨率。 ● S元素標(biāo)準(zhǔn)偏差20ppm。 ●測(cè)試誤差5%。 產(chǎn)品規(guī)格： 外形尺寸 ：470 mm x 560mm x 1030 mm （長(zhǎng)x寬x高） ●樣品倉(cāng)尺寸 ：Φ188mm×88mm （直徑x高） ●儀器重量 ：95kg ●供電電源 ：AC220V/ 50Hz ●zui大功率 ：1000W ●工作溫度 ：15-30℃ ●相對(duì)濕度 ：≤85%，不結(jié)露 硬件配置： 探測(cè)器： ●類型：X-123探測(cè)器（采用原裝風(fēng)進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器） ● Be窗厚度：0.5mil ●晶體面積：25mm2 ●*分辨率：125eV ●信號(hào)處理系統(tǒng)DP5 X射線管： ● 電 壓 ：0~50kV ● zui大電流 ：2.0mA ● zui大功率 ：50W ● 靶 材 ：Mo ● Be窗厚度 ：0.5mm ● 使用壽命 ：大于2萬(wàn)小時(shí) 高壓電源： ●輸出電壓：0~50kV ●燈絲電流：0~2mA ● zui大功率：50W ● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p值） ●8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05% 攝像頭： ● 微焦距 ●免驅(qū)動(dòng) ● 500萬(wàn)像素 準(zhǔn)直器、濾光片： ● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng) ●多種材質(zhì)準(zhǔn)直器 ●光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm ●多種濾光片、準(zhǔn)直器組合，軟件自動(dòng)切換 真空泵： ●雙級(jí)旋片式真空泵 ●功率：400w ●抽吸速率：8m3/h 其他配件： ●進(jìn)口高性能開關(guān)電源 ●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇 |
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